測(cè)厚儀適用于2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片、硬片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準(zhǔn)確測(cè)量，分辨率達(dá)0.1um，廣泛應(yīng)用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)等單位。
測(cè)試原理
測(cè)厚儀采用接觸式測(cè)試原理，截取一定尺寸試樣，測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。
測(cè)厚儀的使用方法：
測(cè)量的時(shí)分，首先將準(zhǔn)備步驟做好，像是探頭的刺進(jìn)鏈接和機(jī)器的開關(guān)，在開機(jī)后，屏幕上已經(jīng)顯示出了前次關(guān)機(jī)前的信息的時(shí)分，就代表可以開端操作了。
然后是關(guān)于聲速的調(diào)整，聲速的調(diào)整是有必要的，按住VEL鍵，就可以對(duì)聲速進(jìn)行調(diào)整，有上下符號(hào)的按鍵可以輔助調(diào)整。
調(diào)整好聲速今后要開端校準(zhǔn)，校準(zhǔn)是很有必要的，不管是在更換電池還是探頭之后，都應(yīng)該對(duì)機(jī)器進(jìn)行校準(zhǔn)，校準(zhǔn)做不好會(huì)影響測(cè)量的數(shù)據(jù)。
Z后，進(jìn)行測(cè)量，將探頭與被測(cè)材料耦合就可以主動(dòng)的進(jìn)行測(cè)量了，屏幕上會(huì)顯示出詳細(xì)的測(cè)量數(shù)據(jù)信息。
測(cè)厚儀的使用注意事項(xiàng)：
1、在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件類似。
2、在測(cè)量的時(shí)分要注意，側(cè)頭與試樣表面堅(jiān)持垂直。
3、在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意基體金屬的臨界厚度，假如大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
4、在測(cè)量的時(shí)分要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因而在曲折的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
5、測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)發(fā)生磁場(chǎng)，假如會(huì)將會(huì)攪擾磁性測(cè)厚法。
6、測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和接近試件邊緣處測(cè)量，由于一般的測(cè)厚儀試件表面形狀的遽然變化很靈敏。
7、在測(cè)量時(shí)要堅(jiān)持壓力的穩(wěn)定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
8、在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)驗(yàn)件的要直接接觸，因而超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭鏟除附著物質(zhì)。
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